【無料ハンズオンセミナー】官能評価・マーケティングにおけるProduct Mapping（11/17・品川会場）

無料ハンズオンセミナー「官能評価・マーケティングにおけるProduct Mapping ― 評価手法とデータ解析をXLSTATで学ぶ ―」の申し込みを受け付けています。複数の製品の特徴や位置づけを可視化する Product Mapping をテーマに、評価方法・データの尺度と解析手法の関係を整理し、統計解析ソフト XLSTAT を実際に操作しながら進めます。

セミナーの詳細・お申し込み

開催概要

• 日時：2026年11月17日（火）13:00〜17:30（受付開始 12:30）
• 会場：TKP品川カンファレンスセンター 6階（東京都港区高輪3-25-23 京急第2ビル／品川駅 高輪口より徒歩約5分）
• 参加費：無料
• 定員：30名（1機関あたり3名まで・先着順）
• 講師：小田井 英陽 Ph.D.（東京バイオテクノロジー専門学校講師／日本官能評価学会 理事・企業部会会長）

会場開催のみで、オンライン配信・録画配信はありません。定員に達し次第、受付を終了します。

セミナー内容

• Product Mapping と評価手法の考え方
• 評価方法・データの尺度と解析手法の関係
• PCA（主成分分析）、MDS（多次元尺度法）、MCA（多重コレスポンデンス分析）の特徴と使い分け
• XLSTAT を用いたデータ解析・マッピングの実践と、結果の読み取り方

ハンズオンのため、XLSTAT Standard 以上をインストールしたパソコンをご持参ください。XLSTAT をお持ちでない方、XLSTAT Essentials をご利用の方には、セミナー用デモライセンスをご用意します。お申し込みフォームでお知らせください。

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